食品營養(yǎng)物質、食品安全是公眾一直關心的熱點問題之一。近年來，在食品領域，我國 ICP-MS檢測相關國家標準相繼頒布實施，為 ICP-MS 在食品及包裝材料檢測提供了更多的標準方法支持，元素分析方法也已經逐漸由化學分析法、原子吸法收和原子熒光法過渡到電感耦合等離子體光譜與質譜法，使檢測元素范圍和檢測方法的靈敏度能夠滿足逐漸嚴格的食品安全限量要求。

ICP-MS/MS 提高干擾去除能力Agilent 8900串聯(lián)四極桿ICP-MS (ICP-MS/MS)具有的串聯(lián)質譜構造，包括兩個掃描四極桿質量分析器，分別在基于八極桿的 ORS4 碰撞反應池的兩 側。因此，8900 ICP-MS/MS 能夠利用反應池氣體和離子/分子反應化學，并結合 MS/MS 模式，解決棘手的光譜干擾問題。MS/MS 反應化學提供的干擾消除能力使上一代 Agilent 8800 ICP-MS/MS 在工業(yè)和研究實驗室得到了廣泛認可，如半導體設備和高純度化學品/材料制造、生命科學、地球科學、放射性核素以及其他領域。MS/MS 模式還有利于分析某些常規(guī)應用中存在的干擾問題的元素，如食品樣品、土壤、廢水和地下水的分析。由于 Agilent 8900 ICP-MS/MS的基質耐受性和穩(wěn)定性能夠與安捷倫市場單四極桿 ICP-MS 系統(tǒng)相媲美，因此 8900 ICP-MS/MS 適用于這些高基質樣品的常規(guī)分析。

對于高基質樣品（如食品消解液樣品）中最寬范圍的痕量和常量元素，Agilent 8900 標準配置 ICP-MS/MS 與 UHMI 相結合提供了常規(guī)分析所需要的穩(wěn)定性和基質耐受性。在 O₂ 反應池氣體與 MS/MS 質量轉移模式下，影響痕量水平砷和硒準確測定的帶雙電荷的 REE 干擾得以消除。大多數(shù)其他元素在 He 模式下進行測定，對于復雜多變的基質，這種在使用中充分驗證過的方法廣泛用于去除常見的基于基質的多原子干擾。 盡管并非所有的食品、土壤和沉積物中均含有高濃度的 REE，但是 ICP-MS/MS 與 MS/MS 相結合提高了食品與環(huán)境樣品中 As 和 Se 測量結果的準確度和可靠性，而這些樣品通常含有復雜多變的高 TDS 基質。利用預設方法和自動調諧大大簡化了方法開發(fā)，確保獲得可重現(xiàn)的性能，不受操作者經驗豐富與否的影響。